Патент 2789118 "Способ измерения внутреннего квантового выхода светодиода"

Способ измерения внутреннего квантового выхода светодиода, согласно которому через светодиод пропускают электрический ток и при заданном значении постоянного тока из диапазона токов, соответствующих росту внутренней квантовой эффективности светодиода, измеряют мощность оптического излучения светодиода. При этом мощность оптического излучения светодиода измеряют при нескольких произвольно выбранных значениях электрического тока, находящихся в диапазоне токов, соответствующих росту внутренней квантовой эффективности светодиода. Полученную экспериментальную ватт-амперную характеристику аппроксимируют методом наименьших квадратов. По результатам аппроксимации определяют параметры необходимые параметры аппроксимирующей функции. Затем рассчитывается значение внутреннего квантового выхода светодиода при произвольном значении тока в заданном диапазоне. Способ направлен на уменьшение аппаратных затрат, трудоемкости и времени измерения, а также обеспечивает расширение функциональных возможностей способа.