РИД
№ АААА-Г19-619020490060-3Программа построения профилей и вычисления параметров шероховатости поверхности, полученных при помощи оптического пера
04.02.2019
Программа предназначена для обработки экспериментальных данных, получаемых при помощи хроматического конфокального зонда – оптического пера. Программа позволяет корректировать искажения уровня и формы поверхности, выполнять изменение масштаба, вращение, инверсию, симметрию полученных профилей. Кроме того, возможно определение параметров шероховатости
ГРНТИ
29.19.13 Механические свойства твердых тел
Ключевые слова
ПРОГРАММА
ПОВЕРХНОСТЬ
ШЕРОХОВАТОСТЬ
ОПТИЧЕСКОЕ ПЕРО
Детали
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Обработка экспериментальных данных, получаемых при помощи хроматического конфокального зонда – оптического пера
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов"
Заказчик
Министерство образования и науки Российской Федерации
Похожие документы
Программа анализа шероховатости поверхностей и боковых стенок линий на микроскопических снимках полупроводниковых элементов
0.887
РИД
Программа построения функции формы индентора по двумерному изображению его рельефа, полученному с помощью сканирующего зондового микроскопа
0.881
РИД
Программа для определения волнистости и шероховатости объектов на основе томографических данных
0.872
РИД
Модуль расчета геометрических параметров поверхности заготовки после абразивной обработки
0.872
РИД
Программа анализа растровой электронной микроскопии для оценки параметра шероховатости боковых стенок линий
0.871
РИД
Программа для расчета параметра шероховатости Ra многоуровневых рельефов поверхностей
0.869
РИД
Программа формирования модели шума на основе датасета профилограмм шероховатости поверхности
0.868
РИД
Программа для визуализации и подсчета результатов измерения дефектов формы цилиндрических твердотельных деталей оптическими методами
0.866
РИД
Программа анализа шероховатости боковых стенок элементов рентгеновской оптики с помощью атомно-силовой микроскопии
0.866
РИД
Программа для оценки параметров профиля по изображениям поверхности на основе машинного обучения
0.865
РИД