Программа для автоматизации параметрического анализа воспроизводимости резистивного переключения мемристивных наноматериалов и структур

27.11.2023

Программа предназначена для автоматизации параметризации мемристивных наноматериалов, в частности, анализа воспроизводимости резистивного переключения мемристивных наноматериалов и структур при помощи электрометра Keithley 6517B. Приложение позволяет получать и визуализировать в реальном времени endurance тест при заданных пользователем напряжениях чтения, записи и перезаписи. Кроме амплитуды подаваемого напряжения пользователь может также определить длительность соответствующих импульсов напряжения, а также интервал между ними. С заданным набором параметров тест может быть запущен несколько раз подряд в автоматическом режиме Также возможен запуск теста в режиме пропуска определенного количества циклов для оптимизации временных затрат на исследование. В таком случае на исследуемую структуру в каждом цикле записи/презаписи подается все четыре импульса, но при этом считывание состояний ON и OFF измерительным прибором осуществляется однократно за тот интервал, что указан пользователем. Текущие значения тока при измерении отображаются в интерфейсе программы в виде обновляемой в реальном времени endurance характеристики. Результаты измерения сохраняются в текстовый и графический файлы.

ГРНТИ

90.27.34 Измерения электрических и магнитных величин

50.53.15 Автоматизация процессов проведения научных экспериментов

50.53.17 Автоматизация сбора и обработки данных научного эксперимента

47.09.48 Наноматериалы для электроники

Ключевые слова

мемристивные свойства

автоматизированные измерения

нейроморфная электроника

Детали

НИОКТР

№ 122071400023-4

Тип РИД

Программа для ЭВМ

Сферы применения

Программа призвана автоматизировать процесс измерения, обработки и визуализации результатов параметризации мемристивных материалов позволяет снизить временные и денежные издержки потребителя при разработке устройств нейроморфной электроники. Потенциальными покупателями являются научно-производственные центры и предприятия полупроводниковой промышленности, такие как ФГУП «РНИИРС» (г. Ростов-на-Дону), АО «Светлана-Рост» (г. Санкт-Петербург), НПП «Пульсар» (г. Москва) и др. Также к потенциальным потребителям можно относятся научно-образовательные организации: НИУ «МИЭТ» (г. Москва), «ННГУ им. Н. И. Лобачевского» (г Нижний Новгород), НИЦ «Курчатовский институт» (г. Москва) и др.

Ожидается

Исполнитель

Исполнители

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ЮЖНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ"

Заказчик

МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Похожие документы

Программа для автоматизации параметрического анализа воспроизводимости резистивного переключения мемриcтивных наноматериалов и структур

0.992

РИД

Программа для автоматизации параметрического анализа временной стабильности резистивного переключения мемристивных наноматериалов и структур

0.986