РИД
№ 625052700173-4

Программа расчёта длины рэлеевского рассеяния аэрогелевого радиатора.

27.05.2025

Программа позволяет рассчитывать длину рэлеевского рассеяния и прозрачность аэрогелевого радиатора на длине волны 400 нм, используя данные (коэффициент пропускания), полученные на спектрофотометре. Программа имеет графическое отображение результатов. Программа написана в пакете ROOT 5.34/30.
ГРНТИ
29.05.81 Методика и техника эксперимента в физике элементарных частиц
Ключевые слова
спектрофотометр
коэффициент пропускания
прозрачность аэрогелевого радиатора на длине волны 400 нм
длина рэлеевского рассеяния
Детали

НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Рассчет длины рэлеевского рассеяния и прозрачность аэрогелевого радиатора на длине волны 400 нм.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ ЯДЕРНОЙ ФИЗИКИ ИМ. Г.И. БУДКЕРА СИБИРСКОГО ОТДЕЛЕНИЯ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа расчёта показателя преломления многослойного аэрогелевого радиатора (Регистрация Свидетельство № 2024683725 от 20.09.2024 г.)
0.868
РИД
Программа расчёта плоскостности аэрогелевого радиатора (Регистрация Свидетельство № 2024668308 от 25.07.2024 г.)
0.866
РИД
Программа для расчета потока электромагнитного излучения сквозь конечную апертуру (RadiationFlux 1.0)
0.851
РИД
«Расчет спектральных закономерностей коэффициентов эффективности поглощения наночастиц металла»
0.850
РИД
Программа для расчета геометрических параметров фазовых резонансных решеток на основе Si3N4
0.849
РИД
Программа для расчета EL2 центров в пластинах арсенида галлия путем обработки изображения пластин в проходящем инфракрасном излучении
0.847
РИД
Программа определения нелинейного показателя преломления при фазовой кросс-модуляции
0.847
РИД
Программа для расчета диаметра модового пятна в оптических гребенчатых волноводах
0.847
РИД
Программа для расчёта спектральных характеристик коэффициентов пропускания и отражения систем тонкая пленка – оптически прозрачная подложка
0.845
РИД
Расчет спектральных характеристик фотоэлектронного прибора с дифракционной решеткой
0.844
РИД