Определение структурных характеристик материала по данным сканирующей электронной микроскопии методом секущих прямых.

Программа предназначена для анализа микрофотографий материала с последующим статистическим анализом полученных данных и может применяться исследовательсткими организациями для решения задач, связанных с необходимостью определения в численном виде линейных размеров структурных элементов исследуемого объекта. Программа обеспечивает выполнение следующих функций:- определение масштаба измерения по данным изображения;- журналирование результатов анализа в текстовые файлы в подробном и кратком виде;- определение среднего размера и доверительных интервалов зерна (пор) материала по итогам статистической обработки введенного набора секущих отрезков на микрофотографии;- ввод информации о проводимом измерении, фиксация даты и времени измерения в файлах журнала.