РИД
№ 623011200144-8Программа управления специализированной установкой для определения градуировочных коэффициентов полупроводниковых устройств
12.01.2023
Программа предназначена для определения градуировочных коэффициентов полупроводниковых устройств. Функциональные возможности программы заключаются в управлении специализированной установкой и получение от неё измеряемых параметров, с возможностью построения графика зависимости напряжения от температуры при пропускании через полупроводниковое устройство тока измерения, а также расчета градуировочных коэффициентов и построение по ним линейной зависимости напряжения от температуры. Программа направлена на решение таких задач, как обработка, индикация и приемопередача данных, управление функциональными свойствами специализированной установки для определения градуировочных коэффициентов полупроводниковых устройств.
ГРНТИ
29.03.21 Тепловые измерения в физическом эксперименте
Ключевые слова
Специализированная установка
Градуировочный коэффициент
Полупроводниковое устройство
Обработка данных
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Может быть применено в физике конденсированного состояния, физике полупроводников, микроэлектронике, материаловедении
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МОСКОВСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Управляющая программа автоматизированным устройством для определения температурного коэффициента напряжения силовых полупроводниковых приборов
0.931
РИД
Программа для управления установкой температуры металлургической границы p-n перехода
0.930
РИД
Управляющая программа автоматизированным устройством для определения теплового сопротивления силовых полупроводниковых приборов
0.917
РИД
Программный комплекс для автоматизации измерения электрических характеристик полупроводниковых ячеек
0.911
РИД
Программа управления установкой для измерения вольт-амперных характеристик светодиодов и лазерных диодов
0.908
РИД
Определение параметров глубоких уровней полупроводниковых структур
0.905
РИД
Программа измерения параметров подзатворного диэлектрика структур металл-диэлектрик-полупроводник при их тестировании методом возрастающего тока
0.900
РИД
2020618317 Программа расчёта переходной тепловой характеристики полупроводниковых приборов
0.900
РИД
2020618317 Программа расчёта переходной тепловой характеристики полупроводниковых приборов
0.900
РИД
Программа для управления процессом измерений электрофизических характеристик импульсных твердотельных источников электромагнитного излучения
0.897
РИД