ИКРБС
№ АААА-Б16-216030270062-1Разработка методики, программного обеспечения и модернизация технологического оборудования с целью постановки процесса изготовления фотошаблонов размером 7 дюймов, используемых в технологии производства устройств нано- и микросистемной техники
07.12.2015
Проведены разработка методики, программного обеспечения и модернизация технологического оборудования с целью постановки процесса изготовления фотошаблонов размером 178 мм, используемых в технологии производства устройств нано- и микросистемной техники. Работа выполняется в целях развития производственной базы научно-исследовательской лаборатории изготовления фотошаблонов при НИУ «МИЭТ» (НИЛ ФШ). Основными видами деятельности НИЛ ФШ являются исследование и разработка технологических процессов формирования топологического рисунка интегральных схем в маскирующем слое фотошаблонов методами лазерной и электронно-лучевой литографии, включая физико-химические процессы обработки экспонированных пластин и процессы аттестации на соответствие проектным данным. Модернизация технологического оборудования отмывки фотошаблона бесконтактным методом позволит провести ориентацию производства интегральных схем на проектные нормы 180 нм, тем самым поддержать передовые предприятия электронной промышленности, нуждающихся в фотошаблонах соответствующего уровня.
ГРНТИ
47.13.11 Технология и оборудование для производства полупроводниковых приборов и приборов микроэлектроники
Ключевые слова
БЕСКОНТАКТНАЯ ОТМЫВКА
МЕТОДИКА
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ПРОЦЕСС
ФОТОЛИТОГРАФИЯ
ФОТОШАБЛОН
ШАБЛОНОДЕРЖАТЕЛЬ
Детали
Заказчик
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"
Исполнитель
Общество с ограниченной ответственностью "Сенсор Микрон"
Похожие документы
Разработка методики, программного обеспечения и модернизация технологического оборудования с целью постановки процесса изготовления фотошаблонов размером 7 дюймов, используемых в технологии производства устройств нано- и микросистемной техники
0.979
НИОКТР
Разработка технологического процесса проектирования дизайна фотошаблона и подготовки управляющей информации для технологических автоматов переноса изображения с использованием программно-аппаратного комплекса в обеспечение производства изделий микроэлектроники и ЭКБ
0.926
НИОКТР
Разработка базовых маршрутов проектирования и изготовления фотошаблонов для производства полупроводниковых изделий с проектными нормами 90-65 нм
0.916
ИКРБС
Исследование технологии создания фотошаблонных заготовок и фотошаблонов, поиск технологических решений и создание на их основе макета фотошаблонной заготовки
0.916
ИКРБС
Разработка базовых маршрутов проектирования и изготовления фотошаблонов для производства полупроводниковых изделий с проектными нормами 90–65 нм
0.911
НИОКТР
Разработка технологического процесса проектирования дизайна фотошаблона и подготовки управляющей информации для технологических автоматов переноса изображения с использованием программно-аппаратного комплекса в обеспечение производства изделий микроэлектроники и ЭКБ
0.910
ИКРБС
Разработка технологического процесса изготовления сложных бинарных фотошаблонов, включая проектирования дизайна, с элементами компенсации оптической близости ОРС (OpticalProximityCorrection) для производства ИС
с проектными нормами 130 нм с применением техники повышения разрешения RET (ReticleEnhancementTechnique)
0.908
НИОКТР
«Разработка технологического процесса изготовления сложных бинарных фотошаблонов, включая проектирования дизайна, с элементами компенсации оптической близости ОРС (OpticalProximityCorrection) для производства ИС с проектными нормами 130 нм с применением техники повышения разрешения RET (ReticleEnhancementTechnique)», шифр «Маска-130»
0.907
ИКРБС
«Разработка технологического процесса изготовления сложных бинарных фотошаблонов, включая проектирования дизайна, с элементами компенсации оптической близости ОРС (OpticalProximityCorrection) для производства ИС с проектными нормами 130 нм с применением техники повышения разрешения RET (ReticleEnhancementTechnique)», шифр «Маска-130»
0.905
ИКРБС
«Разработка технологического процесса изготовления сложных бинарных фотошаблонов, включая проектирования дизайна, с элементами компенсации оптической близости ОРС (OpticalProximityCorrection) для производства ИС с проектными нормами 130 нм с применением техники повышения разрешения RET (ReticleEnhancementTechnique)», шифр «Маска-130»
0.904
ИКРБС