РИД
№ 616022410007Технология эпитаксиального выращивания наногетероструктур InGaAs/InAlAs на подложках InP со вставками InAs в канале для приборов СВЧ электроники (диапазон свыше 100 ГГц)
24.02.2016
Представлена технология получения наногетероструктур на основе полупроводников InGaAs и InAlAs на подложках InP методом молекулярно-лучевой эпитаксии, предназначенных для использования в качестве материалов для полевых транзисторов с высокой подвижностью электронов, способных усиливать электрические сигналы с частотой свыше 100 ГГц (миллиметровый и субмиллиметровый диапазоны длин волн). Описана конструкция модулированно-легированных наногетероструктур InGaAs/InAlAs, содержащих в канале нанометровую вставку InAs, а также технологические режимы и операции, обеспечивающие высокое структурное совершенство слоев гетероструктуры и гетерограниц между различными слоями. Предложенная технология обеспечивает создание наногетероструктур InGaAs/InAlAs со следующими параметрами двумерного электронного газа в канале при комнатной температуре: подвижность – не меньше 10500 см2/В∙с, слоевая концентрация – не меньше 2.8∙1012 см-2.
ГРНТИ
29.19.22 Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
Детали
НИОКТР
№ 114112170090
Тип РИД
Секрет производства (ноу хау)
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ НАУЧНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ИНСТИТУТ СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНОЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ ИМЕНИ В.Г. МОКЕРОВА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
Заказчик
Министерство образования и науки Российской Федерации
Похожие документы
Технология изготовления гетероструктуры InAlAs/InGaAs/InP (GaAs) для транзисторов с высокой подвижностью электронов для СВЧ монолитных интегральных схем миллиметрового диапазона длин волн
0.960
РИД
Конструкция гетероструктуры InAlAs/InGaAs/InP (GaAs) для транзисторов с высокой подвижностью электронов для СВЧ монолитных интегральных схем миллиметрового диапазона длин волн
0.957
РИД
Технология изготовления гетероструктуры InAlAs/InGaAs/InP для резонансно-туннельных диодов
0.951
РИД
Разработка технологии создания инвертированных наногетероструктур AlGaAs/InGaAs/GaAs, содержащих наноразмерные вставки AlAs в барьерных слоях, перспективных для создания полупроводниковых устройств крайне высоких частот
0.950
ИКРБС
Технология изготовления гетероструктуры InAlAs/InGaAs/InP для гетеробиполярных транзисторов
0.947
РИД
Конструкция гетероструктуры InAlAs/InGaAs/InP для резонансно-туннельных диодов
0.947
РИД
Технология изготовления метаморфных и псевдоморфных гетероструктур InAlAs/InGaAs/InP (GaAs) для транзисторов с высокой подвижностью электронов для СВЧ монолитных интегральных схем миллиметрового диапазона длин волн на установках молекулярно-пучковой эпитаксии российского производства
0.946
РИД
Разработка технологии создания инвертированных наногетероструктур AlGaAs/InGaAs/GaAs, содержащих наноразмерные вставки AlAs в барьерных слоях, перспективных для создания полупроводниковых устройств крайне высоких частот
0.945
НИОКТР
Конструкция гетероструктуры InAlAs/InGaAs/InP для гетеробиполярных транзисторов
0.941
РИД
Разработка научных основ эпитаксии наногетероструктур AIIIBV для нового поколения ИК-фотоприемных устройств, в том числе и на подложках кремния
0.936
ИКРБС