РИД
№ АААА-Г17-617050410101-6

Способ изготовления амплитудных дифракционных микроструктур и контактных масок

04.05.2017

Способ относится к оптическому приборостроению и может быть использован для создания элементов дифракционной оптики, контактных масок и др. Способ включает в себя нанесение светочувствительного слоя на поверхность диэлектрической подложки с показателем преломления n>1, формирование скрытого изображения элемента путем локального воздействия сфокусированного лазерного излучения на светочувствительный слой через толщу диэлектрической подложки с последующим проявлением топологического рисунка селективным травлением. Способ позволяет повысить пространственное разрешение изготавливаемых микроструктур.
ГРНТИ
27.35.33 Математические модели электродинамики и оптики
29.31.15 Излучение и волновая оптика
Ключевые слова
ЭЛЕМЕНТ ДИФРАКЦИОННОЙ ОПТИКИ
СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ СЛОЙ
ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПОДЛОЖКА
СФОКУСИРОВАННОЕ ЛАЗЕРНОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ
ТОПОЛОГИЧЕСКИЙ РИСУНОК
Детали

Тип РИД
Изобретение
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Институт систем обработки изображений РАН – филиал Федерального государственного учреждения «Федеральный научно-исследовательский центр «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук»
Заказчик
Федеральное агентство научных организаций
Похожие документы
Способ изготовления фазовых дифракционных решеток, микроструктур и контактных масок
0.929
РИД
Способ изготовления дифракционных оптических элементов
0.927
РИД
Способ изготовления дифракционной решетки на полимерной основе
0.925
РИД
Способ изготовления фазовых дифракционных микроструктур
0.917
РИД
Способ формирования тонкопленочных микро- и наноструктур
0.913
РИД
Способ микроструктурирования поверхности прозрачных материалов
0.903
РИД
Разработка метода формообразования маски с помощью высаживания коллоидных частиц для травления микротекстур и способа создания просветляющих микротекстур на рабочих гранях лазерных кристаллов (промежуточный, этап 2)
0.900
ИКРБС
Способ формирования периодического рисунка на поверхности аморфных тонких пленок фазопеременных халькогенидных материалов
0.900
РИД
Способ формирования фоторезистивной маски
0.897
РИД
Способ изготовления устройства микротехники в объеме пластины фоточувствительного стекла
0.892
РИД