Диссертация
№ АААА-В19-419121490003-6

Разработка и исследование технологических режимов газофазной гетероэпитаксии тонких слоев кремния на сапфире с улучшенными характеристиками

14.12.2019

Цель исследования - разработка новых технологических режимов и способов изготовления эпитаксиальных структур «кремний на сапфире» (КНС) путем изучения процесса газофазной гетероэпитаксии. Разработаны новые режимы и способы формирования гетероструктур КНС, которые позволяют значительно улучшить структурное качество получаемых эпитаксиальных слоев кремния. Предложен оригинальный режим двухэтапной имплантации высокоэнергетичных ионов кремния, включение которого в процесс твердофазной эпитаксиальной рекристаллизации позволило существенно уменьшить плотность дефектов в ультратонких слоях КНС толщиной до 100 нм. Проведено приборное тестирование n-канальных МОП-транзисторов на ультратонком КНС с различным пороговым напряжением. Установлено, что применение разработанных технологических режимов гетероэпитаксии позволило более чем в два раза увеличить подвижность электронов в каналах МОП-транзисторов.
ГРНТИ
29.19.31 Полупроводники
47.09.48 Наноматериалы для электроники
47.09.29 Полупроводниковые материалы
Ключевые слова
КРЕМНИЙ
САПФИР
КРЕМНИЙ НА САПФИРЕ
КНС
СТРУКТУРЫ
ГЕТЕРОСТРУКТУРЫ
СЛОИ
ГЕТЕРОСЛОИ
ГЕТЕРОЭПИТАКСИЯ
ГАЗОФАЗНАЯ ЭПИТАКСИЯ
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ РЕЖИМЫ
ПРОИЗВОДСТВЕННЫЕ СПОСОБЫ
ТВЕРДОФАЗНАЯ ЭПИТАКСИАЛЬНАЯ РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИЯ
ИМПЛАНТАЦИЯ
АМОРФИЗАЦИЯ
СУБМИКРОННЫЙ КРЕМНИЙ
УЛЬТРАТОНКИЙ КРЕМНИЙ
ТРАНЗИСТОРЫ
МОП ТРАНЗИСТОРЫ
СВЧ
Детали

Автор
Федотов Сергей Дмитриевич
Вид
Кандидатская
Целевое степень
Кандидат технических наук
Дата защиты
28.11.2019
Организация защиты
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"
Организация автора
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"
Похожие документы
Разработка метода твердофазной эпитаксии низкодефектных пленок широкозонных полупроводников на кремниевых подложках для микро- и оптоэлектроники
0.933
НИОКТР
Разработка метода твердофазной эпитаксии низкодефектных пленок широкозонных полупроводников на кремниевых подложках для микро- и оптоэлектроники
0.932
НИОКТР
Разработка метода твердофазной эпитаксии низкодефектных пленок широкозонных полупроводников на кремниевых подложках для микро- и оптоэлектроники
0.931
НИОКТР
Исследование в области синтеза специальных композитов и элементов базы для микроэлектроники с использованием функциональных и полупроводниковых покрытий
0.930
ИКРБС
Исследование процессов релаксации кристаллической структуры эпитаксиальных пленок в процессе синтеза псевдоморфных и напряженных гетероэпитаксиальных пленок Ge/Si, GeSi/Si
0.928
НИОКТР
Разработка технологии контролируемого синтеза тонких пленок карбида кремния с использованием метода молекулярно-слоевого осаждения
0.926
НИОКТР
Разработка новых технологических подходов к формированию пленочных структур на основе твердых растворов кремний/германий
0.923
ИКРБС
Разработка технологии формирования слоев кубического карбида кремния высокого структурного совершенства-
0.923
НИОКТР
Исследования процессов эпитаксиального роста и свойств гетерострукутр на основе нитрида галлия, выращенных на подложках кремния для реализации высокого структурного совершенства и высокой эффективности излучения (итоговый)
0.923
ИКРБС
Создание платформы на основе подложки класса «кремний-на-изоляторе» для эпитаксии слоев AIIIBV
0.923
Диссертация