РИД
№ 624011100688-7

Реактор для плазмохимической обработки полупроводниковых структур

11.01.2024

Задача изобретения заключается в создании плазмохимического реактора для высокоскоростного травления кремния, диэлектрических и полупроводниковых материалов на подложках большого диаметра (200-300 мм), а также высокоскоростного травления кварца, алмазоподобных пленок, карбида кремния и других материалов на глубину до 100 мкм и выше, где требуется высокая удельная ВЧ мощность на единицу поверхности для обеспечения высоких скоростей травления 1-5 мкм/мин.
ГРНТИ
47.13.11 Технология и оборудование для производства полупроводниковых приборов и приборов микроэлектроники
Ключевые слова
травление технологических материалов
обработка полупроводниковых структур
Детали

НИОКТР
Тип РИД
Изобретение
Сферы применения
Изобретение относится к области микроэлектроники, в частности к реакторам высокоплотной и высокочастотной плазменной обработки, и может быть использовано в производстве полупроводниковых приборов и интегральных схем.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО ПРОМЫШЛЕННОСТИ И ТОРГОВЛИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Реактор для плазмохимического травления полупроводниковых структур
0.994
РИД
Реактор для плазменной обработки полупроводниковых структур
0.958
РИД
Плазмохимический реактор низкого давления, обеспечивающий плазму высокой плотностидля осуществления процесса в виде травления и осаждения
0.936
РИД
Устройство для травления полупроводниковых структур
0.928
РИД
Способ плазмохимического травления гетероструктур на основе InP
0.916
РИД
Плазмохимический реактор для получения и обработки наноразмерных структур в наноэлектронике
0.914
НИОКТР
СВЧ плазменный реактор с регулированием температуры косвенного нагрева подложки
0.914
РИД
Способ плазмохимического травления кремниевых структур
0.913
РИД
СВЧ плазменный реактор с регулированием температуры косвенного нагрева подложки
0.913
РИД
СВЧ плазменный реактор с регулированием температуры косвенного нагрева подложки
0.913
РИД