РИД
№ 624013100241-8Программа автоматизированного измерения вольт-амперных характеристик ВТСП лент с защитой от квенча
31.01.2024
Программа предназначена для измерения вольт-ампертной характеристики (ВАХ) выскотемпературных сверхпроводящих (ВТСП) лент.Данная программа подходит для измерений ВАХ четырех контактным методом. В качестве приборов возможно использование источников тока компании Agilent и нановольтметров Agilent, Keithley. Пользователь задает начальное и конечное значения тока, шаг развертки и критическое значение напряжения, при котором развертка тока будет принудительно остановлена. Это необходимо во избежании повреждения и деградации образца в случае квенча. ВАХ отображается на экране в режиме реального времени.
ГРНТИ
29.19.29 Сверхпроводники
50.41.25 Прикладное программное обеспечение
Ключевые слова
Сверхпроводимость
Вольт-амперная характеристика
ВТСП
Программное обеспечение
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Исследование токонесущих характеристик сверхпроводящих материалов
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЯДЕРНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ "МИФИ"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа для измерения вольт-амперной характеристики ВТСП композитов с возможностью перетекания тока «Ic-R»
0.940
РИД
Программа измерения вольт-амперных характеристик и оценки параметров критического тока сверхпроводящих контактов Джозефсона SIS-типа
0.881
РИД
Измерение электросопротивления топологических, полупроводниковых и металлических материалов при высоких температурах
0.878
РИД
Программа для расчета вольт-фарадных характеристик сегнетоэлектрических материалов в заданном интервале с использованием прецизионного LCR-метра Agilent Е4980А
0.873
РИД
Измерение температурных зависимостей электросопротивления тонкопленочных и объемных образцов
0.871
РИД
Измерение температурных зависимостей электросопротивления тонкопленочных и объемных образцов
0.871
РИД
Программа для измерения вольтамперных характеристик мемристивных структур
0.871
РИД
Программное обеспечение программно-аппаратного комплекса для проведения исследования вольтамперных характеристик тонкопленочных образцов материалов фазовой памяти в широком температурном диапазоне
0.870
РИД
Программа для тестирования вольт-амперных характеристик углеродных композиционных материалов
0.870
РИД
Программа измерения параметров подзатворного диэлектрика структур металл-диэлектрик-полупроводник при их тестировании методом возрастающего тока
0.867
РИД