РИД
№ АААА-Г20-620100590086-7Способ изготовления полупроводникового прибора
05.10.2020
Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления полевого транзистора с пониженным контактным сопротивлением. В способе изготовления полупроводникового прибора формируют на GaAs подложку области истока/стока n+ - типа внедрением ионов кремния в две стадии: первая стадия с энергией 40 кэВ, дозой 7*1013 см-2, вторая стадия с энергией 100 кэВ, дозой 1*1014 см-2 и проводят термообработку при температуре 800°С в атмосфере азота в течение 20 мин. Изобретение обеспечивает снижение сопротивления контактов, технологичность, улучшение параметров, повышение качества и увеличения процента выхода годных. 1 табл.
ГРНТИ
29.19.16 Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
Ключевые слова
полевой транзистор
ионы кремния
металлический затвор
Детали
Тип РИД
Изобретение
Сферы применения
Предлагаемый способ изготовления полупроводникового прибора путем формирования областей истока/стока n+ - типа внедрением ионов кремния в две стадии: первая стадия с энергией 40 кэВ, дозой 7*1013 см-2, вторая стадия с энергией 100 кэВ, дозой 1*1014 см-2, с последующей термообработкой при температуре 800°С в течение 20 мин в атмосфере азота позволяет повысить процент выхода годных.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чеченский государственный университет"
Заказчик
Министерство образования и науки Российской Федерации
Похожие документы
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.975
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.968
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.967
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.966
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.966
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.964
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.962
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.962
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.960
РИД
Способ изготовления полупроводникового прибора
0.959
РИД